XTOM-MATRIX系列QC型产品介绍

产品介绍

XTOM-MATRIX系列三维扫描系统,基于双目立体视觉原理,采用蓝光投射外差式多频相移技术,实现非接触式的物体表面三维数据的细致、精确、快速获取。

外差式多频相移技术与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度高、纹理细节清晰;蓝光技术与传统白光相比受外界环境光干扰更小,与激光扫描相比精度高、扫描速度快且抗干扰能力强,光源对人体安全无害,适应环境更好,测量精度更高。

MATRIX系列三维扫描系统属于非接触式测量,与接触式单点测量的三坐标相比,测量效率高、点云密度大、易于数模比对,更适合大尺寸物体、复杂曲面及柔性表面的测量。系统结合全局自动拼接技术,可以实现几十米超大工件的快速高精度测量,广泛适用于各种有三维数据需求的行业,如汽车工业、航空航天工业、数码家电、文保文创及医学等领域。

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产品应用

² 逆向设计:快速获取零部件的表面数据,建立三维数模,从而达到产品快速设计的目的。

² 产品检测:生产线产品质量控制和形位尺寸检测,特别适合复杂曲面的检测,可以检测机械加工的复杂零部件及铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。

² 其它应用:文保文创领域的文物高精度全色彩数字化、虚拟修复及数字化展示;医学的牙齿及畸齿矫正、医学整容修复等。

XTOM-MATRIX系列QC-5M型

产品参数

 QC-5M型

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XTOM-MATRIX-5M

双目QC系列

XTOM-MATRIX-5M

四目QC系列

测量幅面

400×300mm

200×150mm 、400×300mm

相机像素

5,000,000×2

5,000,000×4

标准测距

630mm

350mm 630mm

点云间距

0.15mm

0.1 mm、0.2mm

测量景深

≤300mm

≤150mm、≤300mm

标定板规格

400×300mm

400×300mm、200×150mm

投射光源

蓝光

扫描方式

非接触式扫描,多频外差相移

扫描速度

单幅≤1s(投射时间)

拼接方式

全自动拼接,支持标志点拼接、特征拼接、转盘拼接等多种拼接方式

摄影测量

支持摄影测量计算、导入导出测量结果及全局拼接

检测功能

检测分析;报告输出

数据格式

输出:ASC、STL、PLY、X3D);导入:通用CAD文件导入;

 

 

XTOM-MATRIX系列QC-9M型

产品参数

 

 QC-9M型

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XTOM-MATRIX-9M双目 QC系列

XTOM-MATRIX-9M四目 QC系列

测量幅面

400×300mm

200×150mm 、400×300mm

相机像素

9,000,000×2

9,000,000×4

标准测距

630mm

350mm 630mm

点云间距

0.1mm

0.05 mm0.1mm

测量景深

≤300mm

≤150mm、≤300mm

规格

400×300mm

200×150mm 、400×300mm

投射光源

蓝光

扫描方式

非接触式扫描,多频外差相移

扫描速度

单幅≤1s(投射时间)

拼接方式

全自动拼接,支持标志点拼接、特征拼接、转盘拼接等多种拼接方式

摄影测量

支持摄影测量计算、导入导出测量结果及全局拼接

检测功能

检测分析;报告输出

数据格式

输出:ASC、STL、PLY、X3D、O);导入:通用CAD文件导入;

 


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