XTOM-MATRIX系列SR型产品介绍

产品介绍

XTOM-MATRIX系列三维扫描系统,基于双目立体视觉原理,采用蓝光投射外差式多频相移技术,实现非接触式的物体表面三维数据的细致、精确、快速获取。

外差式多频相移技术与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度高、纹理细节清晰;蓝光技术与传统白光相比受外界环境光干扰更小,与激光扫描相比精度高、扫描速度快且抗干扰能力强,光源对人体安全无害,适应环境更好,测量精度更高。

MATRIX系列三维扫描系统属于非接触式测量,与接触式单点测量的三坐标相比,测量效率高、点云密度大、易于数模比对,更适合大尺寸物体、复杂曲面及柔性表面的测量。系统结合全局自动拼接技术,可以实现几十米超大物体的快速高精度测量。

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产品应用

² 逆向设计:快速获取零部件的表面数据,建立三维数模,从而达到产品快速设计的目的。

² 在教学应用层面,XTOM三维光学扫描系统可为现代制造技术、汽车设计、机械工程、艺术设计、服装设计、动漫设计、医美整形、历史文物考古研究等不同类型的高等院系提供有力的教学设备。

² 针对教学培训应用场景,新拓三维提供有结合理论与实践的综合教学应用,适用于作为三维扫描和检测应用教学除了工业硬件和软件,我们将提供包括适用于教员的实践培训,并由经验丰富的工程师提供专业支持。

产品参数

XTOM-MATRIX系列SR-3M型

SR-3M型

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XTOM-MATRIX-3M  双目

XTOM-MATRIX-3M 四目

测量幅面

400×300mm

200×150mm 、400×300mm

相机像素

3,000,000×2

3,000,000×4

标准测距

630mm

350mm 630mm

点云间距

0.2mm

0.1 mm、0.2mm

测量景深

≤300mm

≤150mm、≤300mm

标定板规格

400×300mm

400×300mm、200×150mm

标定板

编码型,铝合金

投射光源

蓝光LED

扫描方式

非接触式扫描,多频外差相移

扫描速度

单幅≤1s(投射时间)

拼接方式

全自动拼接,支持标志点拼接、特征拼接、转盘拼接等多种拼接方式

摄影测量

支持导入摄影测量结果及全局拼接

检测功能

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数据格式

输出:ASC、STL、PLY、X3D)


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