系统介绍
近年来,作为复杂的过程链中的一环,光学测量系统已逐渐成为工业生产过程中的重要工具。新拓三维XTDIC-CONST全场应变测量系统采用非接触测量方式,具有多种工作模式,满足各种测试速率、分辨率和测量范围的要求,且不受材料影响,适用于各种材料的静态或动态实验。

全场测量
测量不局限于单点,可全范围观测变形
更加便捷识别临界破坏点
无需再次试验,即可从之前获取的图像提取关注热点
对于大尺寸或圆周物体可采用多系统陈列
非接触测量
不需要应变片、刷漆或使用栅格
不需要为获得有效结果而进行精确定位
试件振动也可以测量
数分钟即可准备并测量试件
简单易用
安全单一白光照射,不需要激光或其他特殊照明
无需光学隔离即可实现准确测量
试验中间可随时校准系统
自动数据处理节约时间
技术优点
- 系统技术水平先进:自主知识产权的核心算法,技术指标达到国外先进水平
- 系统应用范围广:可用于机械、材料、力学、建筑、土木等多个学科的科学研究与工程测量中,适用于大部分材料
- 系统配置灵活:支持几毫米到几米的测量幅面;支持百万至千万像素相机
- 系统兼容性强:同时兼容单相机二维测量和多相机三维测量
- 辅助功能强大:具备圆形标志点动态变形测量功能;具备刚体物体运动轨迹姿态测量功能
- 扩展接口丰富:具备万能试验机接口、杯突实验机接口等多种类型接口。
技术参数
型号 | XTDIC-CONST-SD | XTDIC-CONST-SP | XTDIC-CONST-HS | XTDIC-CONST-SD-R | XTDIC-CONST-SP-R | XTDIC-CONST-HS-R |
相机分辨率 | 500万像素 | 500万像素 | 400万像素 | 1200万像素 | 1200万像素 | 1200万像素 |
帧频(满帧) | 75 fps | 162 fps | 563 fps | 30 fps | 68 fps | 335 fps |
最小曝光时间 | 21μs | 3μs | 1μs | 21μs | 5μs | 10μs |
测量范围 | 100mm²-100m² |
位移精度 | 0.01pixel |
应变测量范围 | 0.005%-2000% |
应变分辨率 | 20μɛ |
3D全场实时测量 | 最高10Hz | 最高10Hz | 最高10Hz | 最高5Hz | 最高5Hz | n/a |
可测量数据 | 3D全场位移、应变、应变率、速度、加速度、模态分析、轨迹姿态等 |
其他功能 | 多侧头拼接测量,疲劳监测 |
用户接口 | 8路模拟输入,4路模拟输出,2路数字输入,2路数字输出,1路光电传感器输入/干接点输入 |
XTDIC-CONST应用
材料研究和零件测量
材料研究
新拓三维XTDIC-CONST全场应变测量系统能够在各种各样的测试环境下,分析材料的力学性能和行为表现,并且可以完美地集成到现有的测量环境、试验台和试验机,利用非接触测量头,可以在机械加载和热加载的情况下,测量软质和硬质材料的全场三维应变和变形。它可以替代传统的引伸计和应变片,实现实时的三维表面变形分析。
目前,XTDIC-CONST已被广泛应用于材料力学性能测量,是在业界得到广泛认可和好评的测量解决方案。
全场应变分布
应力-应变曲线
杨氏模量
泊松比
N值&R值
拉伸试验
剪切试验
三点弯曲/四点弯曲
疲劳试验……

零件测试和分析
XTDIC-CONST是分析零件力学性能的绝佳工具,它不受零件和材料的几何形貌限制,即使零件在工作状态,光学测量也不受影响。
新拓三维XTDIC-CONST通过评估扭曲、弯曲、位移、速度和加速度等因素,实现分析零件在使用过程中的安全风险、零件寿命、蠕变、老化及外观变化等,以便给设计者提供优化产品设计的试验验证和有效反馈。
在静态和动态测试中,又或者是在高速测试状态下,新拓三维XTDIC-CONST都能通过光学测量获得完整的测试结果,并可以做出完整的数据分析报告:
有限元分析和仿真模拟验证
在新产品设计和制造过程中,制造商越来越多地应用有限元分析软件来进行模拟分析,优化和改进产品性能和制造工艺。新拓三维XTDIC-CONST可将实际测试结果与有限元仿真软件的理论数据进行对比和分析,有效改善模拟仿真工具及其工艺,为项目积累更多数据,有助于加快产品的上市步伐。
比较模拟数据和真实测量结果(应变、位移等)
测定材料特性后,作为现实模拟参数输入软件
包含CAD转换的网格优化功能,用于有限元分析
数字化模拟验证